Das nahtlos integrierte System kombiniert TITAN™-Sonden und das Know-how von MPI auf Wafer-Ebene, um präzise Messungen für Halbleiter der nächsten Generation und Sub-THz-Anwendungen zu ermöglichen.
HSINCHU, 11. September 2025 /PRNewswire/ — MPI Corporation, ein weltweit führender Anbieter von fortschrittlichen Halbleitertestlösungen, gab heute die Veröffentlichung einer vollständig integrierten 250-GHz-Breitbandtestlösung für den neuen Keysight NA5305A/7A PNA-X Frequency Extender bekannt, die auf seiner umfassenden Erfahrung im Bereich der Sub-Terahertz-Sondierung und On-Wafer-Messungen aufbaut. Das neue System nutzt die TITAN™ RF-Sonden von MPI und die Sondenstationsplattform, um eine branchenführende Leistung für die Breitband-S-Parameter-Charakterisierung bis zu 250 GHz zu bieten.
MPI TITAN™ 250 GHz probes engineered for Keysight PNA-X Frequency Extenders
Dieser neueste Meilenstein ist das Ergebnis der langjährigen Erfahrung von MPI im Bereich der Hochfrequenzmessungen, einschließlich früherer Lösungen, die die Grenzen der Breitbandmessung über 200 GHz hinaus erweitert haben. Er spiegelt auch eine vertiefte Zusammenarbeit mit Keysight Technologies wider, die branchenführende Messgeräte mit den fortschrittlichen Lösungen des MPI auf Wafer-Ebene kombiniert, um die steigende Nachfrage nach Sub-Terahertz-Tests zu erfüllen.
„MPI war das erste Unternehmen, das eine Live-Single-Sweep-Kalibrierung und Wafer-Level-Messungen bis zu 250 GHz, sowohl single-ended als auch differentiell, demonstriert hat”, sagte Stojan Kanev, Geschäftsführer der Advanced Semiconductor Test (AST) Division bei MPI Corporation. „Dies baut auf unserer starken Leistung im Bereich der breitbandigen On-Wafer-Charakterisierung mit bewährten Lösungen über 200 GHz auf. Die neue 250-GHz-Lösung kombiniert die TITAN™-Sondentechnologie mit System-Know-how, um stabile, wiederholbare Ergebnisse, klare Sichtbarkeit der Spitze und einen Schutz zu gewährleisten, der die Einrichtung sicher und einfach macht. Es hilft Ingenieuren, Zeit zu sparen, ihr System zu schützen und die beste Leistung zu erzielen.”
Entwickelt für Sub-THz-Präzision
Die 250-GHz-Lösung umfasst die Single-Ended-Sonden TITAN™ T250MAK und die Differential-Sonden T250MSK von MPI, die die neue 0,5-mm-Breitband-Koaxialschnittstelle nutzen und für die Charakterisierung von Breitbandgeräten bzw. für Hochgeschwindigkeits-Differentialtests entwickelt wurden. Die Sonden haben folgende Eigenschaften:
Extrem niedrige Einfügungsdämpfung und hervorragende Rückflussdämpfung über den gesamten Frequenzbereich
Einzigartige Sichtbarkeit der Spitze und mechanische Stabilität für einfache Ausrichtung und konsistenten Kontakt und Daten
Einziehbarer Spitzenschutz für eine sichere Handhabung
Verfügbar in Single-Ended- (GSG) und Dual-Konfigurationen (GSGSG) , optimiert für verschiedene Gerätetypen
Diese Sonden sind vollständig in die MPI-Familie von Sondenstationsplattformen integriert und ermöglichen temperaturkontrollierte Messungen auf Wafer-Ebene mit minimalem Benutzereingriff und maximaler Systemwiederholbarkeit.
Perspektive von Keysight
„Die kontinuierliche Innovation von MPI im Bereich der Hochfrequenz-Wafer-Sondierung spielt eine entscheidende Rolle bei der Erweiterung der Messmöglichkeiten unserer Breitband-Vektor-Netzwerkanalysator-Plattform “, sagte David Tanaka, Produktmanager bei Keysight. „Ihre TITAN™-Sonden bieten die Präzision, Wiederholbarkeit und Systemintegration, die wir benötigen, um das volle Potenzial unserer 250-GHz-Lösung auszuschöpfen. Diese Zusammenarbeit trägt dazu bei, die wachsende Nachfrage nach fortschrittlichen Tests bei Subterahertz-Frequenzen zu befriedigen.”
Unterstützung der sich entwickelnden Bedürfnisse von Halbleiter-Innovatoren
Da KI, 5G/6G und optische Hochgeschwindigkeitskommunikation die Halbleiter in neue Leistungsbereiche vorantreiben, müssen sich die Test- und Messwerkzeuge im Gleichschritt weiterentwickeln. Das 250-GHz-Breitbandsystem von MPI erfüllt diese Anforderungen, indem es Folgendes ermöglicht:
Vollständig kalibrierte Single-Sweep-Breitband-S-Parameter-Messungen bis zu 250 GHz
Unterstützung für modulierte Breitband- und nichtlineare Messungen
Integration mit führenden Testinstrumenten für eine vollständige Messkette
Die neueste Lösung von MPI wird bereits in Evaluierungsumgebungen an wichtigen Kunden- und Partnerstandorten eingesetzt, mit Demonstrationssystemen, die in MPI-Einrichtungen in Taiwan und den Vereinigten Staaten verfügbar sind. Ein öffentliches Debüt ist auf der European Microwave Week (EuMW) 2025 in Utrecht, Niederlande, geplant, wo ein Live-Setup vorgeführt wird.
Informationen zur MPI Corporation
Die 1995 gegründete MPI Corporation mit Hauptsitz in Hsinchu, Taiwan, ist ein weltweit führender Anbieter von Halbleitertestlösungen für hochentwickelte Geräte und Wafer-Level-Charakterisierung. Die Abteilung Advanced Semiconductor Test (AST) des Unternehmens macht RF/mmWave-Prüfungen, Hochleistungsgeräte-Charakterisierung, Siliziumphotonik (SiPh) und Wafer-Level-Zuverlässigkeit. Mit Innovationen wie der TITAN™ RF Probe Serie, WaferWallet® Automation und der TS/IFE Plattformfamilie liefert MPI Präzision, Zuverlässigkeit und Leistung für das gesamte Halbleitertest-Ökosystem.
Weitere Informationen finden Sie unter: www.mpi-corporation.com
Foto – https://mma.prnewswire.com/media/2769602/T250MS_KAPPA_Dual_Probe_with_PMP60_TS2000_IFE__Keysight.jpg
